深圳PCIE分析儀那家好

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當(dāng)時(shí)的HP公司推出狀態(tài)分析儀和Biomation公司推出定時(shí)分析儀（兩者初很不相同）之后不久，用戶開始接受這種數(shù)域測試儀器作為終解決數(shù)字電路測試的手段，不久狀態(tài)分析儀與定時(shí)分析儀合并成邏輯分析儀。20世紀(jì)80年代后期，邏輯分析儀變得更加復(fù)雜，使用起來也更加困難。例如，引入多電平樹形觸發(fā)，以應(yīng)付條件語句如IF、THEN、ELSE等復(fù)雜事件。這類組合觸發(fā)必然更加靈活，同時(shí)對(duì)大多數(shù)用戶來說就不是那樣容易掌握了。邏輯分析儀的基本發(fā)展趨勢是計(jì)算機(jī)與儀器的不斷融合。在PC機(jī)平臺(tái)上使用Windows，只要給定正確的軟件和相關(guān)工具。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號(hào)，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。即可通過互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。溫州UART分析儀訓(xùn)練器源頭工廠，一手勁爆價(jià)，就找歐奧！

作為工程師手頭常備的開發(fā)工具，目前有許多入門級(jí)的邏輯分析儀設(shè)計(jì)，整體功能雖然不能和專業(yè)儀器相比，但是用較低的成本來實(shí)現(xiàn)特定的功能，也是非常成功的設(shè)計(jì)。本文以下討論的邏輯分析儀，主要是指這類入門級(jí)設(shè)計(jì)。基于電腦并口的邏輯分析儀曾是主流，但是近年來電腦系統(tǒng)逐步不再配置并口，這類設(shè)計(jì)已經(jīng)成為明日黃花，還具有原理學(xué)習(xí)的價(jià)值。另一類的邏輯分析儀，是以低速單片機(jī)為基礎(chǔ)的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機(jī)設(shè)計(jì)了自己的作品。但這類單片機(jī)邏輯分析儀的共同弱點(diǎn)就是采樣速度太慢，通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎(chǔ)的入門級(jí)邏輯分析儀現(xiàn)在為流行。比如Saleaelogic，還有類似的USBee等。這類產(chǎn)品主要采用一個(gè)USBIO芯片，例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC，所有的信號(hào)觸發(fā)和處理工作都是電腦上的軟件完成的，硬件部分就只是一個(gè)數(shù)據(jù)記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數(shù)量”地采樣，因?yàn)樗械臄?shù)據(jù)都是存儲(chǔ)在電腦里的。目前一般多是8個(gè)通道，更多的通道數(shù)量會(huì)成比例地降低高采樣速度。這類產(chǎn)品構(gòu)造簡單，方便易用，價(jià)格便宜，是調(diào)試單片機(jī)開發(fā)工作的好工具。它的缺點(diǎn)主要是采樣速度只有24MHz、8個(gè)通道。

因?yàn)閭鬟f過來的信號(hào)幅度比較小。圖23探頭的信號(hào)完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類型：直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載：探頭看起來象一個(gè)對(duì)地的直流負(fù)載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個(gè)負(fù)載可能會(huì)導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定，這個(gè)電阻阻值越，直流負(fù)載越小，阻值越小，直流負(fù)載越。交流負(fù)載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會(huì)減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號(hào)反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號(hào)完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個(gè)方面：探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號(hào)反射的原因是4個(gè)方面：探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)；探頭和目標(biāo)間連線的長度。對(duì)于交流負(fù)載，我們需要考慮：探測點(diǎn)在傳輸線的位置，總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。分析儀廠家哪家好？歐奧電子好！

除非已在觸發(fā)序列中使用了它們。一般情況下，如果可能的話，應(yīng)使用發(fā)生計(jì)數(shù)器代替全局計(jì)數(shù)器，原因是發(fā)生計(jì)數(shù)器的用法比較簡單，而且全局計(jì)數(shù)器的數(shù)量有限。定時(shí)器：定時(shí)器用于檢查事件之間消耗的時(shí)間。例如，如果想在出現(xiàn)一個(gè)時(shí)鐘沿后的500ns內(nèi)出現(xiàn)另一個(gè)時(shí)鐘沿的情況下引發(fā)觸發(fā)，請(qǐng)使用定時(shí)器。使用定時(shí)器時(shí)要記住的關(guān)鍵一點(diǎn)是：先啟動(dòng)定時(shí)器，然后再對(duì)其進(jìn)行測試。換句話說，定時(shí)器無法自動(dòng)啟動(dòng)。設(shè)置定時(shí)器的關(guān)鍵是確定在何種情況下進(jìn)行啟動(dòng)和測試。存儲(chǔ)限定：存儲(chǔ)限定用于確定應(yīng)該存儲(chǔ)（即，存入內(nèi)存）還是丟棄已獲得的樣本。這可以避免不需要的樣本占用邏輯分析儀內(nèi)存。設(shè)置存儲(chǔ)限定簡單的方法是設(shè)置“默認(rèn)存儲(chǔ)”。默認(rèn)存儲(chǔ)表示“如果未經(jīng)序列步驟指定，則進(jìn)行存儲(chǔ)”。例如，可能只想在ADDR的范圍為1000到2000時(shí)存儲(chǔ)樣本，那么就應(yīng)將“默認(rèn)存儲(chǔ)”設(shè)置為：ADDRInRange1000to2000默認(rèn)情況下，“默認(rèn)存儲(chǔ)”設(shè)置為存儲(chǔ)所有已獲得的樣本。也可以將“默認(rèn)存儲(chǔ)”設(shè)置為不存儲(chǔ)任何樣本，這意味著除非某序列步驟覆蓋該默認(rèn)存儲(chǔ)，否則將不存儲(chǔ)任何樣本。序列步驟存儲(chǔ)限定意味著在某個(gè)特定的序列步驟內(nèi)只存儲(chǔ)特定的樣本。這意味著在使用GoTo（轉(zhuǎn)到）或Trigger。協(xié)議分析儀哪里買？找歐奧！武漢邏輯分析儀收費(fèi)

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如果在時(shí)鐘沿檢測器重置之前出現(xiàn)第二個(gè)時(shí)鐘沿（在個(gè)時(shí)鐘沿后），為避免數(shù)據(jù)丟失需要兩個(gè)樣本。在跳變定時(shí)中，每個(gè)序列步驟只有2個(gè)分支。在跳變時(shí)序中，只有一個(gè)全局計(jì)數(shù)器可用。跳變時(shí)序需要有時(shí)間標(biāo)簽才能重建數(shù)據(jù)。通過將時(shí)間標(biāo)簽與內(nèi)存中的測量數(shù)據(jù)交叉可存儲(chǔ)時(shí)間標(biāo)簽。默認(rèn)情況下，分析儀將查找為邏輯分析儀模塊定義的所有總線/信號(hào)上的轉(zhuǎn)變。但是，為增加可用內(nèi)存深度和采集時(shí)間，可以在高級(jí)觸發(fā)中選擇不存儲(chǔ)某些總線/信號(hào)轉(zhuǎn)變（如將無用信息添加到測量中的時(shí)鐘或選沖信號(hào)）。運(yùn)行測量時(shí)，無論總線/信號(hào)是否定義或是否分配給邏輯分析儀通道，都將在所有這些通道上采集數(shù)據(jù)。在跳變時(shí)序模式中，如果定義的總線/信號(hào)（未排除的）上存在轉(zhuǎn)變，將保存采集的樣本。運(yùn)行跳變時(shí)序測量后，如果為以前未分配的邏輯分析儀通道定義新的總線/信號(hào)，那么將顯示在這些通道上采集的數(shù)據(jù)，但是不可能存儲(chǔ)這些總線/信號(hào)上的所有轉(zhuǎn)變；顯示的數(shù)據(jù)好似新的總線/信號(hào)在運(yùn)行測量前就已經(jīng)被排除了。在跳變時(shí)序中，不需要預(yù)先存儲(chǔ)數(shù)據(jù)（觸發(fā)前獲得的樣本）。因此，與狀態(tài)模式非常相似的是，觸發(fā)位置（起始/中心/結(jié)束）表明觸發(fā)后樣本占用內(nèi)存的百分比。深圳PCIE分析儀那家好