江西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試原理

SIR（表面絕緣電阻）測(cè)試在電子制造業(yè)中扮演著至關(guān)重要的角色，是確保產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的基石。它專(zhuān)注于評(píng)估印刷電路板（PCB）和其他電子組件表面的絕緣性能，防止因助焊劑殘留、污染物積累或材料老化導(dǎo)致的短路問(wèn)題。通過(guò)模擬長(zhǎng)期使用條件下的電氣性能變化，SIR測(cè)試幫助制造商識(shí)別并解決潛在的電氣故障，保障電子產(chǎn)品在各種環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行，從而提高客戶(hù)滿(mǎn)意度和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。廣州維柯的SIR（表面絕緣電阻）測(cè)試測(cè)試電壓高達(dá)2000V/5000V可選,:1x106-1x109Ω≤±2%精度，20ms/所有通道每秒的速度電阻測(cè)試不僅是技術(shù)問(wèn)題，也涉及測(cè)試人員的技能和經(jīng)驗(yàn)。江西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試原理

定溫度臨界值溫度循環(huán)是從低溫開(kāi)始還是從高溫開(kāi)始,根據(jù)溫度臨界值和測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度（來(lái)自溫濕度測(cè)試的傳感器表面溫度）來(lái)判斷。（把傳感器放入溫沖箱時(shí)，箱內(nèi)環(huán)境溫度是試驗(yàn)開(kāi)始的溫度。）從低溫開(kāi)始試驗(yàn)時(shí)，測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度＞溫度臨界值。從高溫開(kāi)始試驗(yàn)時(shí)，測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度＜溫度臨界值。例如）欲從低溫開(kāi)始試驗(yàn)，測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度（25℃）＞溫度臨界值(20℃以下)欲從高溫開(kāi)始試驗(yàn)，測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度（25℃）＜溫度臨界值(30℃以下)浙江SIR和CAF電阻測(cè)試分析老化測(cè)試通過(guò)長(zhǎng)時(shí)間通電，評(píng)估電阻值隨時(shí)間變化的穩(wěn)定性。

航空航天設(shè)備中的電阻測(cè)試還需要考慮極端環(huán)境的影響。例如，在太空環(huán)境中，溫度變化和輻射等因素可能導(dǎo)致電阻值的變化。因此，電阻測(cè)試設(shè)備需要具備高精度和穩(wěn)定性，以準(zhǔn)確測(cè)量和記錄這些變化，為飛行器和航天器的設(shè)計(jì)和維護(hù)提供數(shù)據(jù)支持。與此同時(shí)，隨著航空航天技術(shù)的不斷發(fā)展，電阻測(cè)試技術(shù)也在不斷升級(jí)。現(xiàn)代電阻測(cè)試設(shè)備不僅具備高精度和自動(dòng)化的特點(diǎn)，還能夠適應(yīng)極端環(huán)境，為航空航天領(lǐng)域的電子系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)證提供更加可靠的手段

(2)設(shè)定溫度境界值溫度循環(huán)是從低溫開(kāi)始還是從高溫開(kāi)始,根據(jù)溫度境界值和測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度（來(lái)自溫濕度測(cè)試的傳感器表面溫度）來(lái)判斷。（來(lái)自溫濕度板的傳感器與溫濕度箱的傳感器在同一位置時(shí)，箱內(nèi)環(huán)境溫度是試驗(yàn)開(kāi)始的溫度。）從低溫開(kāi)始試驗(yàn)時(shí)，測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度＞溫度境界值。從高溫開(kāi)始試驗(yàn)時(shí)，測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度＜溫度境界值。例如）欲從低溫開(kāi)始試驗(yàn)，測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度（25℃）＞溫度境界值(20℃以下)欲從高溫開(kāi)始試驗(yàn)，測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度（25℃）＜溫度境界值(30℃以下)半導(dǎo)體元器件隨著技術(shù)和生產(chǎn)工藝的進(jìn)步，其可靠性得到了長(zhǎng)足的發(fā)展。

測(cè)試模式：1）熱沖擊式2）溫度定值式3）無(wú)溫度判定式熱沖擊模式(1)可收錄溫度循環(huán)中的低溫區(qū)/高溫區(qū)中各1點(diǎn)數(shù)據(jù)。該模式***于使用溫度模塊時(shí)。(a)由于溫沖箱和測(cè)試系統(tǒng)是用不同的傳感器測(cè)量溫度的，因此，多少會(huì)產(chǎn)生溫度偏差。(b)測(cè)試值以高溫限定值和低溫限定值的設(shè)定值為基點(diǎn)，在任意設(shè)定的收錄間隔時(shí)間后，在各溫度下，測(cè)量1次，（將高溫及低溫作為1個(gè)循環(huán)，各測(cè)1次）各限定值的基準(zhǔn)以5℃左右內(nèi)為目標(biāo)進(jìn)行設(shè)定，而不是溫沖箱的設(shè)定溫度。另外，將各試驗(yàn)時(shí)間（高溫時(shí)間、低溫時(shí)間）的一半作為目標(biāo)設(shè)定收錄間隔時(shí)間。注）因?yàn)椋瑴y(cè)試系統(tǒng)上搭載的測(cè)試模塊的數(shù)量會(huì)變動(dòng)，所以，請(qǐng)不要在溫沖箱的溫度保持時(shí)間結(jié)束后的3分鐘后設(shè)定數(shù)據(jù)收錄間隔時(shí)間。隨技術(shù)的發(fā)展電子產(chǎn)品的集成度越來(lái)越高，電路板（PCB/PCBA）上的元件也越來(lái)越密集。江西制造電阻測(cè)試訂做價(jià)格

電阻測(cè)試數(shù)據(jù)的異常波動(dòng)，可能預(yù)示著電路中存在潛在問(wèn)題。江西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試原理

    作為電子可靠性測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)先鋒，維柯科技深耕SIR/CAF絕緣電阻測(cè)試與TCT低阻測(cè)試領(lǐng)域逾十年，以“全場(chǎng)景覆蓋、全精度適配”的產(chǎn)品矩陣，為半導(dǎo)體、PCB、新能源等行業(yè)提供一站式測(cè)控解決方案。,SIR/CAF系統(tǒng)：高阻世界的洞察者搭載16通道**模塊化架構(gòu)，支持256通道大規(guī)模并行測(cè)試，單通道配備超微型電流表，精細(xì)捕捉1pA級(jí)微弱電流，電阻測(cè)量范圍達(dá)1×10?Ω-1×101?Ω，精度比較高至±2%（1×10?-1×10?Ω區(qū)間）。5000V超高壓輸出能力（可選配外電源）適配嚴(yán)苛工況，搭配溫濕度實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)與失效智能預(yù)警，實(shí)時(shí)繪制電阻曲線(xiàn)并生成專(zhuān)業(yè)報(bào)表，精細(xì)定位絕緣失效與導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）風(fēng)險(xiǎn)，為**電路可靠性驗(yàn)證筑牢防線(xiàn)。 江西SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試原理